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什么是反射式膜厚测量仪?有何特点?

2020-07-22


  膜厚测量仪是一种被广泛使用在金属箔片生产行业的厚度测量设备,通过物理发射性穿透原理,利用超声波变化,从而实现材料测试功能。反射式膜厚测量仪便是其中一种类型,也能对薄膜性质的材料实现厚度测量功能。

  那么什么是反射式膜厚测量仪呢?

  其在使用过程中主要是通过反射原理实现材料厚度测量,薄厚测量仪在使用中主要是通过α、β、γ三种射线实现被测物厚度测量。只是相比较而言,采用反射式设备测量的话,在测量方式上没有可选性,已经被固定住,这样也有好处,很大程度上方便操作者使用,有助于工作效率的提升。

  反射式膜厚测量仪特点:

  1、非接触式测量

  这种测量仪是采用非接触式测量方法,在不接触被测物的情况下的,可以确保在测量过程中不会对被测物造成破坏,完全不会破坏样品,最大程度上保证了测量仪的完整性;

  2、测量精度高

  所谓的反射式测量主要是通过紫外线测量反射率光谱,将被测物的薄膜厚度以及光学常数记录下来,测得平均值,最终所得的测量精度是非常高的;

  3、测量方便

  通过显微镜的协助下,实现微距测量被测物的口径,能够实现宽度在190纳米到1100纳米的波长测量范围;

  反射式膜厚测量仪测量规格:

  测量规格主要包括膜存范围、波长范围、电源规格以及重量等等,其中波长范围以上提到过在190纳米到1100纳米之间,膜存范围在1纳米到40纳米之间;光源规格可选性比较多,主要有紫外线、可见光以及紫外和可见混合光源;重量范围一半在96kg左右,仅限被测物的主体部分;

  反射式膜厚测量仪应用范围:

  因为这种反射式测量仪比较方便使用,而且测量范围精准,因为被广泛使用在许多行业,比如半导体应用、光学材料测量以及平面显示器厚度测量等等;

  什么是反射式厚度测量仪?以上内容对该问题进行了详细解答,主要让各位了解设备测量原理以及测量特点、规格和应用范围上的相关信息。